存儲器測試算法與實現.pdf

1、存儲器由于其應用廣，產量大，成為了半導體行業的支柱。近年來，存儲器芯片容量增大，單元密度增加，制造工藝越來越復雜，造成生產出的產品良率明顯下降，因此必須采用新的故障模型和故障測試算法。
　　 本文研究了存儲器的測試技術和故障模型，并分析了5種常規測試算法，即全“O”全“l”法、棋盤算法、March算法、蝶形算法和奔跳算法。本文在深入研究著幾種常規算法的基礎上，提出了一種改進型March算法，基于棋盤格式對March算法進行改進。

2、即每一個單元與其緊相鄰的各個單元的值都不同，使得它們之間存在較大的電勢差，容易產生互相影響。此算法能檢測固定故障SAF、地址解碼故障AF、轉換故障TF和相鄰圖形敏感故障NPSF這四種類型的故障。在測試復雜度上，相對于基本March算法，此種改進型March算法沒有增加額外的測試時間。
　　 本文使用ATL機器語言實現該算法。以DDR存儲器為測試實例，使用一臺Advantest T5571測試機和一片12英寸直徑的512M DDR