掃描熱顯微鏡

1、掃描熱顯微鏡和多模式原子力顯微鏡掃描熱顯微鏡和多模式原子力顯微鏡總結總結隨著多模式原子力顯微鏡的發展，Nanosurf公司為研究者提供了一個更具有靈活性的平臺，對更先進的成像模式提出了要求，當然這些還是秉承了該公司一貫以“人性化操作”為標志的原則。實驗表明，現在的顯微鏡系統與先前的easyscan(耳溫槍原理)不同，現在的多模式原子力顯微鏡能夠容納更多的專業懸臂梁，同時能夠很容易的進行系統的輸入和輸出是其眾多優點之一。這種優勢通過掃描熱

2、顯微鏡和局部熱分析能力的一體化表現了出來，這些都是Anasys儀器所具有的。掃描熱顯微鏡掃描熱顯微鏡掃描熱顯微鏡也是依靠原子力顯微鏡的成像模式，即熱導電率通過樣品表面使圖片發生改變的形式完成的。同其他模式（橫向力顯微鏡，磁力顯微鏡，靜電力顯微鏡等），掃描力顯微鏡在獲得數據的同時能夠接收圖像方面的數據。這種掃描模式的制作是用靠近納米加工熱探針針尖頂部的電阻元件來代替標準的接觸模式懸臂來實現的。這個電阻與惠斯通電橋的電路的一端合并，從而允許

3、系統來控制阻力。該阻力與探針尾部的溫度相關，惠斯通電橋也許就是被設計來一方面探測樣品的溫度，另一方面用來描繪樣品熱導電率的質量圖。樣品溫度的變化常常在有源件設備中表現出來，例如，它有可能是有關設備的熱點和溫度梯度圖，如磁記錄頭、激光二極管和電路。然而，然而熱導率成像通常應用于復合或混紡樣品。在這種模式下，一個電壓應用于探針、一個反饋環路則過去常常用于保持探針的恒溫。隨著熱探針在不同樣品表面上的掃描，或多或少的能量將會從針尖消耗掉。如果這

4、個區域是高熱導電率區中的一部分，那么更多的能量將從針尖消失。當這種情況發生的話，熱反饋環將根據電壓調整探針，使之保持一個常溫。當探針進入一個低熱導電率的區域的時候，熱反饋環將會降低電壓以迎合探針，因為探針此100nm分辨率的獲得局部定量熱機制信息。而這些通過Anasys公司的原位納米熱分析系統這臺儀器是可以實現的。一旦一個區域的熱率被確認出來是通過熱探針的標準形貌成像后，就可以把探頭放在一個特定的點來衡量局部熱性能。這種信息的獲得是隨著

5、時間線性增加原位納米熱分析系統的溫度的同時檢測探針的偏轉來實現的，這種熱機制的反應允許用戶獲得定量測量的相變溫度如熔點(Tm)和玻璃化轉變溫度(Tg)。在相轉變溫度的時候，探針下的樣品將會變軟，使探針能夠穿透到樣品中去。圖2所示的是關于產品某一部分探針偏轉的溫度函數，在熱性能空間分辨率方面的突破對高分子科學和藥品有重要的意義，因為這對理解局部熱行為很重要。圖2:這是關于高分子乙烯膜的一個局部納米熱分析圖。圖中顯示的測量結果是在兩個不同的